爆款keithley/吉时利4200A-SCS参数分析仪
美国keithley/吉时利4200A-SCS参数分析仪
产品:keithley/吉时利
产品型号:4200A
产品名称:参数分析仪
产品产地:美国
Keithley吉时利4200A-SCS参数分析仪
使用 4200A-SCS 加快半导体设备、材料和工艺开发的探索、可靠性和故障分析研究。 业内性能参数分析仪,提供同步电流-电压 (I-V)、电容-电压 (C-V) 和超快脉冲 I-V 测量。
4200A-SCS 是一种可以量身定制、全面集成 的参数分析仪,可以同步查看电流电压(I-V)、电容电压(C-V) 和超快速脉冲式I-V 特性。作为性能高的参数分析仪, 4200A-SCS 加快了半导体、材料和工艺开发速度。
4200A-SCS ClariusTM 基于GUI 的软件提供了清楚的、不折不 扣的测量和分析功能。凭借嵌入式测量专业知识和数百项随时 可以投入使用的应用测试,Clarius Software 可以更深入地挖掘 研究过程,快速而又满怀信心。
4200A-SCS 参数分析仪可以根据不同用户需求进行灵活配 置,不管是现在还是未来,都可以随时对系统进行升级。通过 4200A-SCS 参数分析仪,通往发现之路现在变得异常简便。
主要性能指标
I-V 源测量单元(SMU)
- ± 210 V/100 mA 或 ± 210 V/1 A 模块
- 100 fA测量分辨率
- 选配前端放大器提供了 10 aA测量分辨率
- 10 mHz - 10 Hz 超低频率电容测量
- 四象限操作
- 2 线或 4 线连接
C-V 多频率电容单元(CVU)
- AC 阻抗测量 (C-V, C-f, C-t)
- 1 kHz - 10 MHz 频率范围
- ± 30 V (60 V差分)内置DC偏置源,可以扩展到± 210 V(420 V 差分)
- 选配 CVIV 多通道开关,在 I-V 测量和 C-V 测量之间简便切换脉冲式I-V 超快速脉冲测量单元(PMU)
- 两个独立的或同步的高速脉冲 I-V 源和测量通道
- 200 MSa/s,5 ns 采样率
- ±40 V (80 V p-p),±800 mA
- 瞬态波形捕获模式
- 任意波形发生器 Segment ARB® 模式,支持多电平脉冲波形,10 ns 可编程分辨率
高压脉冲发生器单元(PGU)
- 两个高速脉冲电压源通道
- ±40 V (80 V p-p),± 800 mA
- 任意波形发生器 Segment ARB®模式,支持多电平脉冲波形,10 ns 可编程分辨率I-V/C-V 多通道开关模块 (CVIV)
- 在 I-V测量和 C-V 测量之间简便切换,无需重新布线或抬起探针
- 把 C-V测量移动到任意端子,无需重新布线或抬起探针远程前端放大器/ 开关模块(RPM)
- 在 I-V 测量、C-V 测量和超快速脉冲 I-V 测量之间自动切换
- 把 4225-PMU的电流灵敏度扩展到数十皮安
- 降低电缆电容效应
4200A-SCS 仪器和模块
型号 |
说明 |
主要测量 |
范围 |
测量分辨率 |
4200-SMU |
中等功率源测量单元 |
DC I-V |
±100 mA, ±210 V |
0.2 mV, 100 fA |
4210-SMU |
高功率源测量单元 |
±1 A, ±210 V |
0.2 mV, 100 fA |
|
4200-PA |
远程前端放大器模块 |
扩展所有 SMU 的电流范围 |
0.2 mV, 10 aA |
|
|
|
|
1 kHz - 10 MHz |
|
4210-CVU |
电容电压单元 |
AC 阻抗 |
±30 V 内置DC 偏置装置(60 V 差分) |
- |
|
|
|
±210V |
|
4200A-CVIV |
I-V/C-V 多通道 |
DC I-V 和 C-V 自动切换 |
- |
- |
|
|
脉冲式 I-V |
±40 V (80 V p-p), ±800 mA |
|
4225-PMU |
超快速脉冲测量单元 |
2048 个段 |
75 nA |
|
|
|
20 ns 脉宽仅输出时 |
|
|
|
|
60 ns 脉宽输出同时测流时 |
|
|
4225-RPM |
远程前段放大器 / |
DC I-V、C-V、脉冲式 I-V |
扩展 4225-PMU 单元的电流范围 |
200 pA |
4220-PGU |
高压脉冲发生器单元 |
脉冲式电压源 |
±40 V (80 Vp-p) |
- |
接地单元 |
内置低噪声接地单元 |
- |
三同轴连接 : 2.6 A |
- |
提取或测量参数列表实例
CMOS 晶体管 |
Id-Vg, Id-Vd, Ig-Vg, Vth, Vtlin, Sub-Vt, Rds-on, breakdown, capacitance, QSCV, Low-frequency CV, self-heating reduction and more |
BJT |
Ic-Vc, Vcsat, Gummel plot, capacitance, βF, αF |
非易失性存储器 |
Vth, endurance test, capacitance |
纳米尺寸器件 |
Resistance, Id-Vg, Id-Vd, Ic-Vc |
分立元器件 |
Id-Vg, Id-Vd, Ic-Vc, Vfdiode, Vrdiode, capacitance |
材料 |
Van der Pauw, 4-point collinear resistivity, Hall Effect |
光伏器件 |
Iforward, Ireverse, HiR, LoR |
功率器件 |
Pulsed Id-Vg, pulsed Id-Vd, breakdown |
可靠性 |
NBTI/PBTI, charge pumping, hot carrier injection, V-Ramp, J-Ramp, TDDB |
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