X射线测厚仪

测厚仪工作原理

对于X射线，在其穿透被测材料后，射线强度I的衰减规律为

式中 I0———入射射线强度；

μ———吸收系数；

h———被测材料的厚度。

当μ和I0一定时，I仅仅是板厚h的函数，所以测出I就可以知道厚度h。

X射线测厚仪原理是根据X射线穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的，即测量被测钢板所吸收的X射线量，根据该X射线的能量值，确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号，经过前置放大器放大，再由专用测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号。

X射线源辐射强度的大小，与X射线管的发射强度和被测钢板所吸收的X射线强度相关。一个在系统量程范围内的给定厚度，为了确定其所需的X射线能量值，可利用M215型X射线检测仪进行校准。在检测任一特殊厚度时，系统将设定X射线的能量值，使检测能够顺利完成。

在厚度一定的情况下，X射线的能量值为常量。当安全快门打开，X射线将从X射线源和探头之间的被测钢板中通过，被测钢板将一部分能量吸收，剩余的X射线被位于X射线源正上方的探头接收，探头将所接收的X射线转换为与之大小相关的输出电压。如果改变被测钢板的厚度，则所吸收的X射线量也将改变，这将使探头所接收的X射线量发生变化，检测信号也随之发生相应的变化。

1、上照式

2、测试组件可升降

3、高精度移动平台

4、小准直器

5、高分辨率探头

6、可视化操作

7、自动定位高度

8、自动寻找光斑

9、鼠标定位测试点

10、良好的射线屏蔽

11、超大样品腔设计

12、测试口安全防护

X射线测厚仪技术指标

型号：Thick 800A

元素分析范围从硫（S）到铀（U）。

一次可同时分析多24个元素或五层以上镀层。

元素分析检出限可达2ppm，分析含量一般为2ppm到99.9％。

镀层厚度薄可达0.005um，一般在20um内（不同材料有所不同）。

小孔准直器（小直径0.1mm），测试光斑在0.2mm以内。

高精度移动平台（定位精度小于0.005mm）。

任意多个可选择的分析和识别模型。

相互独立的基体效应校正模型。

多次测量重复性可达0.05um（对少于1um的外层Au）。

长期工作稳定性为0.1um（对少于1um的外层Au）。

温度适应范围为15℃至30℃。

电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。

仪器尺寸：576 x 495x545 mm

重量：90 kg

X射线测厚仪标准配置

开放式样品腔。

精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。

双激光定位装置。

铅玻璃屏蔽罩。

Si-Pin探测器。

信号检测电子电路。

高低压电源。

X光管。

高度传感器

保护传感器

计算机及喷墨打印机

X射线测厚仪应用领域

黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.

金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。

主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。

EMC公司设计生产在线X射线测厚仪已有40年历史，我们采用低辐射X射线脉冲技术提供的厚度测试解决方案。SXR-225采用新的固态设计，从而不受市电频率的限制。SXR-225固定在225Hz频率下工作，它的高速响应满足了客户高效、高质、低耗的生产要求。

工作原理

SXR-225 X-Ray测厚仪主要由以下三部分组成：

1） 一个X射线发生源（SOURCE），产生适量的、可控的X射线；

2） 一个固态侦测器（DETECTOR），测量未被吸收的X射线；

3） 一个高级模块化设计的变送器（CONTROL CONSOLE），用于控制、读取发生源及侦测器；

发生源电压等级（KV）由客户根据测试材质和厚度的不同选定。

（图1）

工作时，发生源产生的脉冲X射线穿透被测物、被侦测器侦测到，如图1。材质相同时，随着被测物厚度增加，被测物吸收的X射线越多，相应地，透过被测物被侦测器侦测到的X射线越少。侦测到的X射线信号被发送到变送器用于金属补偿或厚度显示。

应用

标准测厚仪单元（图2a）提供一个偏差值模拟指针显示。操作人员只需用被测物对仪表进行简单归零，测厚仪就能测量和显示厚度偏差（典型偏差范围为：±10%）。标配有厚度值和偏差量模拟输出。

（图2a）

如果客户选购微处理器的显示控制单元（图2b和封面）和标样，测厚仪将能以数字形式显示厚度、设定点和偏差值。客户可以直接通过微处理器操作面板对仪器进行校准和标定，而且，厚度值和偏差值都能以数字和模拟量输出到外部设备。

（图2b）

行业应用

● 卷轧厂来料/出料厚度测试；

● 金属槽（瓶）壁厚度；

● 金属板（或剖面）厚度；

● 客户要求的其他应用场合；

（图3）

可测试材质：

STEEL （钢材） PLASTICS （塑料）

ALUMINUM （铝材） RUBBER （橡胶）

COPPER （铜材） GLASS （玻璃）

ALLOY （合金） PARTICLE BOARD （人造板）

应用价值

选择EMC脉冲式X射线测厚仪的价值：

★ 发生源能产生佳水平的X射线，稳定性高、信噪比好；

★ 关闭电源后，测厚仪将不产生辐射，但同位素测厚仪则几十年内一直存在辐射；

★ X射线测厚仪比同位素测厚仪更符合政府部门的使用规范；

★ 非接触精密测量，非常适用于不规则表面和恶劣工况使用；

★ EMC X射线测厚仪设计坚固、稳定性好、性价比高，具有悠久的稳定使用历史；