雷尼绍测头

根据使用用途可分为：三坐标测头系统和机床测头系统

1、手动测座

?三坐标测头一系列固定的及手动可转位测座，用于连接触发式测头和机器轴套，可灵活地对复杂部件进行检测。

MH20i：适用于TP20测针模块的可重复定位测座；

MH20：适用于TP20测针模块的定位测座；

MH8：适用于M8螺纹固定测头的可重复定位测座；

MIH(S)：具有内置LCD位置显示器的可重复定位测座；

PH1：具有偏置测头底座的定位测座；

PH5/1：具有五个测头插槽和B轴转位的固定式测座；

PH5：具有五个测头插槽的固定式测座；

PH6：具有一个测头插槽的固定式测座；

PH6M：具有自动铰接的固定式测座。

2、机动和自动测座

机动可重复定位测座可将测头放置在720个位置中的一个，所以可以在多个角度下进行测量。测座的这种重复性使这些位置可以重新调用，无需重新标定，节省了操作时间，并能够在合适的角度上使用测头，达到的结果。

PH10机动可重复定位测座：可重复定位测座系列（PH10M、PH10MQ和PH10T）有轴套式安装和测头式安装两种选项

3、伺服测座

机动伺服测座提供无限制的角度位置，适合水平测量臂坐标测量机。

4、触发式测头

触发式测头测量离散的点，是检测三维几何工件的理想选择。

Renishaw提供品种齐全、具有理想性价比的系统，既可在手动坐标测量机上进行简单的性能检测，也可在数控高速机器上进行复杂轮廓测量。

TP20测头：具有模块交换功能的紧凑型机械式测头；

TP200测头：具有模块交换功能的紧凑型应变片式测头；

TP6(A)测头：具有M8和自动铰接固定选项的坚固机械式测头；

TP7M测头：具有自动铰接的应变片式测头；

OTP6M测头：用于检测软材料的光学触发式测头；

TP2/TP1S(M)测头：传统触发式测头。

5、扫描测头

扫描测头是微型测量仪器，每秒能够采集几百个表面点，可以测量形状、尺寸和位置。扫描测头也可用于采集离散点，与触发式测头类似。Renishaw提供了一系列解决方案，供各种尺寸和配置的坐标测量机选用。

SP25M测头：具有扫描和触发式模块的25 mm直径扫描测头；

SP600测头：高性能检测、数字化和轮廓扫描；

SP80测头：轴套安装式扫描测头，用长测针提供一流的性能。

扫描原理

扫描测量提供了从规则型面工件或其他复杂工件上高速采集形状和轮廓数据的方法。

触发式测头可采集表面离散点，而扫描系统则可获取大量的表面数据，提供更详细的工件形状信息。因此，在实际应用中如果工件形状是整个误差预算的重要考量因素或必须对复杂表面进行检测，扫描测量可谓理想之选。扫描需要根本不同的传感器设计、机器控制和数据分析方法。Renishaw扫描测头独具特色的轻巧无源机构（无马达或锁定机构），具有高固有频率，适合高速扫描测量。分离的光学测量系统直接（无需通过测头机构中的叠加轴）测量测针的变形量，以获得更高的精度和更快的动态响应。

扫描系统如何采集并分析表面数据？

扫描测头提供连续的偏移量输出，与机器位置相结合，从而获得表面位置数据。进行扫描测量时，测头测尖开始与工件接触，然后沿工件表面移动，采集测量数据。在整个测量过程中，须将测头测针的偏移量保持在测头的测量范围内。要想取得佳测量结果，需要传感器与机器控制紧密集成，以及先进的滤波运算，以将合成数据转换为可用的表面信息。扫描驱动算法适用于工件轮廓测量，改变扫描速度使之匹配曲率的变化（表面越平，速度越快），然后调整数据采集速率（表面变化越快，采集的数据越多）。

?机床测头Renishaw测头解决方案能够节省90%辅助时间并改进过程控制。

Renishaw提供对刀、刀具破损检测、工件找正、序中测量和首件检测解决方案，并可自动更新刀具偏置。

节省时间。降低废品率。保持竞争力。

1、用于工件找正和工件检测的机床测头

Renishaw测头系统是一种创新的解决方案，可以提高您的机床效率。

数控加工中心和车床上的触发式测头可用于识别并设定工件、对特征进行序中测量以进行适应性加工，并确认成品工件的尺寸。节省时间。 降低废品率。 保持竞争力。